在迈向超低功耗电子器件与高可靠微系统的过程中，一个长期被忽视的“隐形损耗源”正逐渐浮出水面——电子摩擦。

在传统认知中，摩擦主要源于晶格振动（声子），而随着自超滑技术的发展，声子摩擦已被压制至接近极限。然而，在看似“零摩擦”的界面中，电子激发带来的能量耗散仍然存在，甚至可能成为主导机制。这意味着——

对于深圳清力技术有限公司（简称“清力公司”）而言，这个问题尤为关键。在公司正在推进的自超滑微特电机、自超滑微动发电机、自超滑射频开关及其他自超滑器件研发中，这种损耗将直接影响：功耗与热管理、接触电阻稳定性 、器件寿命与可靠性。

中国科学院院士、清华大学教授、清力公司创始人及首席科学家郑泉水团队近日在《Physical Review X》发表重要研究成果，基于自超滑van der Waals界面构建可滑动器件平台，首次实现电子摩擦与声子摩擦的分离及器件层面的独立调控。研究发现，在石墨/MoS2异质结中，界面形成Schottky接触并产生耗尽层，其在滑动过程中不断重构，驱动载流子非平衡迁移，将机械能转化为Joule热耗散，揭示了电子摩擦的物理起源。

器件层面的电子摩擦操控。左：自超滑运动界面器件电子摩擦的三种调控方式：压力、偏压与栅压。右：电子摩擦与耗尽层内的电荷密度相关，且可在压力、偏压超过阈值时被消除（van der Waals能隙被关闭）。

能效飞跃： 通过电压、压力精准调控，可彻底“关闭”电子摩擦通道。这意味着未来的微纳器件能耗将大幅降低，电池续航更久，发热更少。

寿命倍增： 解决了微观尺度下的磨损难题，器件在长周期运行中依然保持“零磨损”状态，极大提升设备可靠性与维护周期。

定制化设计： 首次揭示电子摩擦源于“耗尽层重构”，为芯片设计者提供了全新的自由度——像设计电路一样设计摩擦特性，打造专为高能效场景定制的微系统。